低介电损耗
属 原材料 层3 分钟阅读
别名:L、o、w、 、D、i、e、l、c、t、r、s、,、k、/、f、Low Dk、Low Loss
材料在高频电场中能量损耗程度的指标,是AI高速信号材料的关键参数。
低介电损耗(Low Dielectric Loss)
材料在高频电场中能量损耗程度的指标,是AI高速信号材料的关键参数。
定义
| 参数 | 全称 | 含义 |
|---|---|---|
| Dk | Dielectric Constant(介电常数) | 储存电能的能力,影响信号传播速度 |
| Df | Dissipation Factor(损耗因子) | 能量损耗程度,低介电损耗 = Df小 |
为什么AI需要低介电损耗
AI服务器:112G [SerDes](/wiki/serdes/) / 224G [SerDes](/wiki/serdes/)
└── 信号频率高(56GHz/112GHz频谱)
└── [Df](/wiki/df/)高 → 信号衰减大 → 误码率上升
└── 必须用低介电损耗材料
低介电损耗材料体系
| 材料 | Dk | Df | 应用场景 |
|---|---|---|---|
| 普通环氧树脂 | 4.0 | 0.02-0.04 | 普通PCB |
| PPO/PPE树脂 | 3.5 | 0.005-0.01 | 高速板 |
| MPI(改性PI) | 3.0-3.5 | 0.004-0.008 | 高速CCL/软板 |
| NE-Glass(无硼E-Glass) | 4.4 | 0.001-0.005 | AI 224G SerDes增强 |
| PTFE纤维布 | 2.1 | 0.0008-0.0015 | 航天/毫米波TR |
| PTFE(铁氟龙) | 2.1 | 0.002 | 毫米波/射频 |
| 低损耗E-Glass | 4.4 | 0.001 | 高频CCL增强材料 |
| MEGTRON7/8(M7/M8) | 3.3 | 0.002 | AI服务器高速背板 |
覆铜板的低介电损耗化
普通覆铜板 → 低介电损耗覆铜板:
改进路径:
├── 树脂改性:[环氧树脂](/wiki/epoxy-resin/) → [PPO](/wiki/ppo/)/[PPE](/wiki/ppe/) → [MPI](/wiki/mpi/) → LCP
├── 增强材料:普通E-Glass → 低损耗E-Glass → [NE-Glass](/wiki/ne-glass/) / [PTFE纤维布](/wiki/ptfe-fiber-fabric/)
└── 铜箔处理:RTF铜箔 → VLP铜箔 → HVLP铜箔(受[趋肤效应](/wiki/skin-effect/)驱动)
↓
[电子级玻璃纤维布](/wiki/electronic-gradeglass-fabric/)(低损耗E-Glass / [NE-Glass](/wiki/ne-glass/))
+ [铜箔](/wiki/copper-foil/)(VLP/HVLP铜箔,受[趋肤效应](/wiki/skin-effect/)驱动)
+ 低损耗树脂
→ [覆铜板](/wiki/copper-clad-laminate/)(高速低损耗CCL)
→ [18层以上多层板](/wiki/18-layer-multilayer-pcb/)(AI服务器高速背板)
→ [AI服务器](/wiki/ai-server/)112G SerDes
核心关系
关键问答
- 低介电损耗 与「- **低介电损耗**」的关系是什么?
- - **低介电损耗** → [电子级玻璃纤维布](/wiki/electronic-gradeglass-fabric/)改进方向。
- 低介电损耗 与「- **低介电损耗**」的关系是什么?
- - **低介电损耗** → [铜箔](/wiki/copper-foil/)低粗糙度化(HVLP)。
- 低介电损耗 与「- **低介电损耗覆铜板**」的关系是什么?
- - **低介电损耗覆铜板** → [18层以上多层板](/wiki/18-layer-multilayer-pcb/) → [AI服务器](/wiki/ai-server/)(112G/224G [SerDes](/wiki/serdes/))。
- 低介电损耗 与「- **MEGTRON7」的关系是什么?
- - **MEGTRON7/8** → 松下电工低损耗高速材料标杆,[PPO](/wiki/ppo/)/[MPI](/wiki/mpi/)系树脂。
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